實驗電爐在使用中會出現這(zhe)樣(yang)那樣(yang)的(de)(de)問(wen)題(ti)影(ying)響(xiang)使用，如實驗電爐的(de)(de)感應加熱(re)設(she)備(bei)運(yun)行正常、但在正常過流(liu)(liu)保護動作時(shi)燒(shao)(shao)毀整(zheng)流(liu)(liu)系(xi)統的(de)(de)晶閘管。出現這(zhe)樣(yang)的(de)(de)問(wen)題(ti)的(de)(de)解決方法是什(shen)么(me)呢(ni)？答：處理(li)過流(liu)(liu)保護時(shi)為了向(xiang)電網釋(shi)放平波電抗器(qi)(qi)的(de)(de)能量，整(zheng)流(liu)(liu)橋(qiao)由整(zheng)流(liu)(liu)狀態轉(zhuan)到逆變(bian)(bian)狀態，這(zhe)時(shi)如果就有可(ke)能造成有源逆變(bian)(bian)顛覆燒(shao)(shao)毀整(zheng)流(liu)(liu)系(xi)統的(de)(de)可(ke)控硅，感應加熱(re)爐的(de)(de)開關(guan)跳(tiao)閘，并(bing)伴隨有巨大(da)的(de)(de)電流(liu)(liu)短路爆炸聲(sheng)，對變(bian)(bian)壓器(qi)(qi)產生較大(da)的(de)(de)電流(liu)(liu)和電磁力(li)沖擊，嚴重時(shi)會損壞變(bian)(bian)壓器(qi)(qi)。

a.晶閘管設(she)備(bei)在(zai)做絕緣耐(nai)壓測試時，請取(qu)下控制(zhi)板，不(bu)然能夠形成控制(zhi)板較(jiao)久性(xing)損壞。

b.內(nei)部電路及參數的更改，恕不另行通知(zhi)。

c.如果在運(yun)用中(zhong)形成控制(zhi)板以外的零部件損(sun)壞，本公(gong)司(si)概不負責。

d.DLJ器(qi)材(cai)是(shi)一種CMOS器(qi)材(cai)，運用(yong)(yong)時應留意，器(qi)材(cai)的(de)(de)兩個(ge)引腳(jiao)之間禁止短(duan)路，不然將(jiang)損壞芯片，為確保(bao)器(qi)材(cai)的(de)(de)蓄熱式鍛造加熱爐安全，因而忌用(yong)(yong)萬用(yong)(yong)表直接測(ce)量器(qi)材(cai)的(de)(de)引腳(jiao)。

第二個問(wen)題(ti)：實驗電(dian)爐的(de)感應加熱設備、熱處理(li)設備運行正(zheng)常但(dan)旁路(lu)(lu)電(dian)抗器(qi)(qi)發(fa)生發(fa)熱燒毀的(de)現象。這(zhe)個問(wen)題(ti)該(gai)如何(he)解(jie)決(jue)？答：出(chu)現這(zhe)個問(wen)題(ti)是因為旁路(lu)(lu)電(dian)抗器(qi)(qi)自身的(de)質量現象；逆(ni)(ni)變(bian)電(dian)路(lu)(lu)存在不對稱(cheng)運行，造成逆(ni)(ni)變(bian)電(dian)路(lu)(lu)不對稱(cheng)運行的(de)主要(yao)原因來源于信號回路(lu)(lu)。解(jie)決(jue)方法(fa)就(jiu)是把逆(ni)(ni)變(bian)電(dian)路(lu)(lu)調對稱(cheng)就(jiu)行了。

實驗電爐在使用中還會有其他一些(xie)問題，但(dan)也都(dou)有合理的解(jie)決(jue)方法，具體(ti)請關注我(wo)公司網站上的文(wen)章。